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产品名称: FAST-SWIR短波红外热像仪

关键性能及优势:

SWIR系列还可用于无损检测 (NDT) ，以检测材料焊接中的杂质。

技术参数

参数	FAST S800	FAST S2k
像素大小	20 μm x 20 μm
光谱带	0.9 μm to 1.7 μm opt.: 0.4 μm to 1.7 μm (VisNIR)
空间分辨率	640 × 512 pixels
最高帧频(全窗模式)	865 Hz	1730 Hz
最高帧频(子窗口模式)	33 000 Hz @ 32 x 32	150 000 Hz @ 32 x 4
曝光时间	1 µs up 40 ms @ 25 oC sensor temperature (high gain mode)

参数	FAST S800	FAST S2k
像素大小	20 μm x 20 μm
光谱带	0.9 μm to 1.7 μm opt.: 0.4 μm to 1.7 μm (VisNIR)
空间分辨率	640 × 512 pixels
最高帧频 (全窗模式)	865 Hz	1730 Hz
最高帧频 (子窗口模式)	33 000 Hz @ 32 x 32	150 000 Hz @ 32 x 4
曝光时间	1 µs up 40 ms @ 25 oC sensor temperature (high gain mode)

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